爱特蒙特 #11-045 光学光束分析仪

产品系列说明 

高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性 

可为大光束进行分析的大面积传感器 

USB 3.0接口实现zui 快传输率

 产品特征

Edmund Optics® (爱特蒙特光学)光束质量分析仪设计用于测量各类激光束尺寸，为优化激光系统操作提供信息。这些激光束质量分析仪配有高分辨率和大面积传感器，以确保能够针对小型和大型激光束进行精密分析。有两种尺寸可供选择，光束质量分析仪采用适用于 1 英寸 x 32 TPI 安装的螺纹，使之能够与 C 接口配件兼容. 爱特蒙特光学光束质量分析仪备有一外部触发器，可通过脉冲激光与相机同步，同时具有 USB 2.0 与 3.0 兼容性，可提供业内zui 快的传输率。每台光束质量分析仪还包括具有多个显示选项（2D，3D 和 XY）的直观光束分析软件，以及许多控制工具，例如背景减除功能和高斯拟合. 支架: 1" x 32 TPI (C-Mount) 帧频 (fps): 9 (at full frame) 像素 (H x V): 2048 x 1088 (2.2 MegaPixel) 像素大小，H x V (μm): 5.5 x 5.5 波长范围 (nm): 350 - 1150 输入光束要求 : Minimum 55μm (10 x 10 pixels) 感应区域，H x V (mm): 11.3 x 6.0 计算机接口 : Displays: 2D, 3D, XY and Beam Tracking Dia. Definitions: D4σ, 1/e2 (13.5%), FWHM (50%), 86% of the aperture Buffer Controls: Open File, Save Current Data, Save All Data, Previous/Next Image, Clear, Animate Report: 2D, 3D, XY, Measures and Parameters. Print screen tool in BMP (2D and 3D) 包含的滤波器 : Neutral Density, OD 4.0 (x1)